由固體顆粒堆積而成的集合體叫做粉體。固體顆粒即是組成粉體的基本單元。從而測量粉體粒徑分布（或者說粉體粒度）的儀器簡稱粉體粒度儀。
真理光學(xué)技術(shù)團(tuán)隊(duì)具有超過二十年粒度表征及應(yīng)用開發(fā)的經(jīng)驗(yàn)，曾研發(fā)出中國第一臺商用激光粒度分析儀。測量粉體粒度分布的粉體粒度儀是真理光學(xué)基于多年的科研成果并融合多項(xiàng)專利技術(shù)開發(fā)的新一代粉體粒度儀：
（1）發(fā)現(xiàn)愛里斑的反常變化（ACAD）規(guī)律及其對粒度測量的影響，解決了ACAD現(xiàn)象對光能數(shù)據(jù)反演的干擾。
（2）獨(dú)創(chuàng)的偏振空間濾波技術(shù)
（3）斜置梯形窗口技術(shù)。
（4）統(tǒng)一的散射光能反演算法，免除了用戶必須選擇反演模式，而不同模式有不同結(jié)果的困擾。
（5）分散系統(tǒng)雙電機(jī)驅(qū)動及液位連續(xù)監(jiān)控。
