Zeta電位分析儀是一種界面特性，這對于理解固體材料在很多工藝技術(shù)處理方面非常重要。Zeta電位給出了固體表面電荷、吸附性質(zhì)等的信息。
拓展豐富了表界面分析知識。
對不同形狀和尺寸的固體及粉末材料均適用。
在表面分析中，固體表面基于流動電勢和流動電流測量法，從而研究宏觀固體表面Zeta電位。它可以提供有關(guān)表面電荷和相關(guān)性質(zhì)的信息，并可檢測表面性質(zhì)中微小的變化。
Zeta電位分析儀的主要特點：
超小體積設(shè)計。
可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量。
樣品濃度從PPM到百分之幾十，都能在原液狀態(tài)下取樣和測定。
微量電泳樣品池，可以測定Zeta電位。
廣泛應(yīng)用于膠質(zhì)粒子、機能性納米粒子、高分子、膠束、核糖體、納米囊等的測定。
操作簡單，進樣、設(shè)定參數(shù)后，只要按開始按鈕即可得到測量結(jié)果。
Zeta電位分析儀提供各種功能，其中包括以下幾個優(yōu)點：
動態(tài)光散射：用于測量顆粒和分子的粒度及粒度分布。
電泳光散射：測量顆粒和分子的Zeta電位，以顯示樣品穩(wěn)定性和/或團聚傾向性。
擴展粒度范圍分析功能可針對超過1μm的顆粒粒度提供更高的準(zhǔn)確性，并針對超過10μm的顆粒粒度提供指示性結(jié)果。
具有恒流模式可以在高導(dǎo)電介質(zhì)中測量Zeta電位和電泳遷移率。
以樣品為中心的軟件可以實現(xiàn)靈活的指導(dǎo)式使用，并可輕松構(gòu)建復(fù)雜的模型。
“自適應(yīng)相關(guān)”算法能生成可靠且可重復(fù)的數(shù)據(jù)，同時計算速度超過以往的兩倍，可在減少樣品制備的情況下更快速地執(zhí)行更多可重現(xiàn)的粒度測量，實現(xiàn)更具代表性的樣品視圖。
