納米粒度儀采用動態光散射原理，通過高靈敏度的光子計數器PMT實時接收納動態光散射信號，通過具高性能的自相關器對信號進行甄別和處理，再通過準確反演計算就得到了納米顆粒的粒度分布。
納米粒度儀的主要性能特點：
先進的測試原理，采用動態光散射原理，其測試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態的特點，從而保證了測試結果的真實性和有效性；
高靈敏度與信噪比核心部件采用數字相關器，它實時完成動態散射光強的采集和自相關函數運算，從而有效地反映不同大小顆粒的動態光散射信息，為測試結果的準確度奠定基礎；
穩定的光路系統采用光纖技術搭建而成的光路系統，使光子相關譜探測系統不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩定性；
高精度恒溫控制系統采用半導體溫控技術，溫控精度高達±0。2℃，使樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運動速度變化導致的測試偏差，保證測試結果準確度及穩定性。
納米粒度儀要如何測定等電點你知道嗎？
等電點，是zeta電位測定時的一個名詞，正確解釋應為當zeta電位為0時當前膠體體系的PH值，而非PH值為7時，當前膠體體系的ZETA電位，這點一定要注意。
當你只購買了標準配置的主機時，也可以通過手動方法測定等電點：
（1）準備好當前膠體體系樣品，先通過其它設備（PH計）測定當前樣品PH值，建議重復三次以上并取平均值；
（2）在主機中測定當前樣品的zeta電位值，建議重復三次以上并取平均值；
（3）根據原始樣品的zeta電位值的正負±，建議選用鹽酸和氫氧化鈉溶液開始相應方向的滴定，如果初始zeta電位值為正，則用氫氧化鈉溶液滴定（反之亦然）；
（4）每次滴定后，重新測定該樣品的zeta電位值（循環往復這個步驟）；
（5）以橫坐標為PH值，縱坐標為zeta電位值作圖，在圖上標出每個階段樣品的數值并連線（滴定間隔點越小越好）；
（6）在標出樣品zeta電位為0前后位置的點后，將這兩點連線，延長縱坐標zeta電位為0mV的連線，與曲線的交點，其對應的橫坐標就是該樣品的等電點。
